108223
Brak okładki
Książka
W koszyku
Trafność pomiaru jako podstawa obiektywizacji egzaminów szkolnych / red. Bolesław Niemierko ; współred. Janina Sygniewicz, Wojciech Walczak ; [Wyższa Szkoła Humanistyczno-Ekonomiczna w Łodzi et al.]. - Łódź : Wydaw. WSH-E, cop. 2003. - 395 s. : mapy, rys., tab., wykr. ; 24 cm.
Autor
Niemierko Bolesław (1935- ). Red. Sygniewicz Janina. Red. Walczak Wojciech (1959- ). Red.
Temat
Egzaminy szkolne Oceny szkolne
Gatunek
Materiały konferencyjne
zob. w.bibliotece.pl
Status dostępności:
Wyp. Miejska (Rynek 8)
Brak informacji o dostępności: sygn. 20379 [lok. Wypożyczalnia Miejska] (1 egz.)
Strefa uwag:
Uwaga ogólna
U dołu okł.: IX Krajowa Konferencja z cyklu Diagnostyka Edukacyjna, Łódź 24-26 września 2003 roku.
Uwaga dotycząca bibliografii
Bibliogr. przy mater.
Uwaga dotycząca języka
Tekst częśc. ang.
Recenzje:
Potwierdź wykonanie raportu
Wyprowadzać dodatkowo:
sygnatury
identyfikatory
hasła przedmiotowe
lokalizacja
streszczenia
numer ISBN
hasło sortowania
adres wersji elektronicznej
rozmieszczenie egzemplarzy
opis fizyczny
Sortowanie zestawienia:
Sortowanie pozycji zestawienia:
Sortowanie pozycji zestawienia:
Pozycja została dodana do koszyka. Jeśli nie wiesz, do czego służy koszyk, kliknij tutaj, aby poznać szczegóły.
Nie pokazuj tego więcej